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低介電常數雷達物位計

扼要(yao)分析(xi):低介電常數雷達物(wu)位計(ji)天(tian)(tian)(tian)線發射極窄的微波脈(mo)沖(chong)(chong),這個脈(mo)沖(chong)(chong)以光速(su)在空間(jian)傳播,碰到(dao)被測(ce)介質表面,其部分能量被反射回(hui)來,被同一天(tian)(tian)(tian)線接收。發射脈(mo)沖(chong)(chong)與(yu)接收脈(mo)沖(chong)(chong)的時間(jian)間(jian)隔與(yu)天(tian)(tian)(tian)線被測(ce)介質

  • 設備型號:
  • 生產廠商的性質:生產廠家
  • 更新軟件用時:2023-10-13
  • 訪  問  量:1040
詳細介紹

低介電常數雷達物位計天線發射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,碰到被測介質表面,其部分能量被反射回來,被同一天線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線被測介質表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*,發射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小(納秒量級)很難確認。CDRD50系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調技術,可以準確識別發射脈沖與接收脈沖的時間隔,從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。

低介電常數雷達物位計特  點
由于采用了*微波處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術,導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
“虛假回波學習”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下,可正確地確認真實回波,獲得準確的測量結果。
多種過程連接方式及天線型式,使得CDRD50系列雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如:高溫、高壓及小介電常數介質的測量等。
采用脈沖工作(zuo)方式,雷達物位(wei)計發(fa)射功率極低,可安裝于各種金(jin)屬、非金(jin)屬容器內,對人(ren)體(ti)及環境均(jun)無傷害(hai)。

應用: 存儲容器或過程容器,復雜過程條件
zui大量程:70m
測量精度:±20mm
過程連接:法蘭316L
天線材料:不銹鋼316L/PTFE
過程溫度:-40~200℃
過程壓力:-1.0~40bar
頻率范圍:6GHz
信號輸出:兩線制/四線制4~20mA /HART
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